Ultramicrotome KATANA.
Connectomx
Système compact d’ultramicrotomie In-Situ MEB/Serial Block-Face
Le couteau diamant vibrant surface le block échantillon en retirant des couches aussi minces que 15 nm.
Après chaque coupe, la surface du bloc exposé est imagée par un détecteur BSE. Cette méthode automatisée In Situ permet d’acquérir une série d’images électroniques sur un grand volume d’échantillon.
Système KATANA compatible multi-MEB
- Possibilité de sélectionner différents MEB au sein du même laboratoire selon vos critères techniques, coût, disponibilité de vos équipements et de l’ensemble des données à analyser.
- Changement rapide et facile du système KATANA entre MEB pour l’imagerie Serial Bloc-Face.
Le système KATANA Utilise un couteau vibrant/oscillant Diatome pour une coupe améliorée
- Large niveau d’oscillation avec rétroaction en temps réel réglable de 0 à 100 nm.
- Fréquence variable réglable de 0 à 100 kHz.
- Mode auto-résonance permettant une faible dissipation thermique.
Atténuation du niveau de débris
Position d’imagerie MEB surélevée (jusqu’à 1 mm) pour diminuer la distance de travail
Logiciel de commande en « OPEN Source »
- Une connexion série simple permet le contrôle du système Katana à partir d’un autre poste informatique.
Logiciel fourni pour l’automatisation de MEB d’anciennes générations
- Nécessité que le MEB soit équipé d’un PC avec version Windows95 ou au-delà.
¹ SBEMimage (Serial Block-face Electron Microscopy) est actuellement en cours de développement Alpha. Logiciel de contrôle d’acquisition versatile pour la microscopie électronique en Bloc-Face (Benjamin Tize, Christel Genoud et Rainer W.Friedrich).
² Taille maximale pouvant être coupée en une seule fois. Pour faciliter la coupe, le positionnement du couteau et prendre en considération la forme du bloc à couper, il est recommandé une taille max de : 1.2 X 1.2 X 1.2 mm.
Spécifications
- Microtome
Dimension : 135 x 66 x 56 (H) mm
Résolution en Z : 1 nm (boucle fermée)
Gamme de déplacement en Z : 1300 μm
Largeur du disque diamant : 1.5 mm
Amplitude de l’oscillation du couteau : 0 – 170 nm
Fréquence d’oscillation du couteau : 0 – 60 kHz
Distance de travail minimale : 3 mm (distance entre l’échantillon et le détecteur BSE)
Taille maximale d’un échantillon² (X, Y, Z mm) : 21.5 x 1.5 x 1.3 mm.
- Accessoires
Valise de rangement taille cabine
50 broches d'échantillon en aluminium
Fioles de stockage d'échantillons
Tiges de nettoyage en diamant
Pincettes
Bride SEM
Adaptateur de platine SEM
Accessoires (en option)
Couteau en diamant de rechange
Ordinateur portable à écran tactile
Outil de mesure d'échantillon
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